Новости

Главная > Лента новостей > НИЯУ МИФИ проведет отборочный тур Инженерной олимпиады школьников

НИЯУ МИФИ проведет отборочный тур Инженерной олимпиады школьников

25/10/2019

2019-10-25_145406

Очный тур Инженерной олимпиады школьников для учеников 9-11 классов состоится в Национальном исследовательском ядерном университете «МИФИ» 27 октября. Об этом сообщили на сайте учреждения.

На базе НИЯУ МИФИ школьники пройдут ежегодные испытания по физике. Задания посвящены прикладной механике и машиностроению, технической термодинамике, электротехнике, электронике и ядерным технологиям. Вопросы будут касаться тем школьной программы, но иметь ярко выраженный инженерный уклон.

Организаторы мероприятия приглашают в стены заведения не только участников, но и их родителей. Для них во время олимпиады будут организованы встречи с руководителями приемной комиссии и отдела олимпиад. Желающие услышат информацию о поступлении в НИЯУ МИФИ, Предуниверситарий при университете, а также о других олимпиадах учреждения.

Инженерная олимпиада школьников посвящена проверке знаний по физике и проходит в два тура. Организаторы мероприятия уточняют, что олимпиада относится ко второму уровню из Перечня 2019-2020 учебного года. Это означает, что победители и призеры Инженерной олимпиады будут иметь преимущество при поступлении в вуз перед участниками третьего уровня. Однако уступать тем, кто завоевал место в олимпиаде первого уровня.

Данный показатель присваивается всероссийским олимпиадам ежегодно в мае. Уровень зависит от количества участников, которые соревновались в прошлом учебном году. Чем больше человек, тем выше уровень олимпиады, тем престижнее она считается. От уровня также зависят привилегии при поступлении. Выпускнику вуз может предоставить внеконкурсное прохождение или 100 балов по профильному предмету.

Задания отборочного тура прошлых лет вы можете посмотреть здесь. Более подробная информация о предстоящей олимпиаде размещена здесь.

Мероприятие состоится 27 октября в 10:00. При себе необходимо иметь паспорт РФ.

Фото: сайт университета НИЯУ МИФИ

Метки: , ,

Выбор редактора